通辽科技大市场暨内蒙古东部常设技术市场

设备名称：高分辨透射电子显微镜 

仪器型号：JEM-2100 

所属单位：西安交通大学-金属材料强度国家重点实验室 

设备原值：677 万元 

制造厂商：日本电子 

生产国别：日本 

当前状态：对外服务 

仪器设备详细指标 

主要技术指标 加速电压200KV，高分辨极靴，样品倾斜角度，X方向±25°，Y方向±30°. 点分辨率为0.23nm，晶格分辨率为0.1nm，电子枪亮度≥4×108A/(cm2.sr)； TEM模式下，束斑尺寸为Φ2～Φ5nm，放大倍数2，000×～1，500，000×，EDS/NBD/CBD模式下，束斑尺寸为Φ0.5～Φ2.4nm； STEM模式下，晶格图象的分辨率为0.2nm； EDS的接受角度为0.13sr，逸出角度为25°。  

功能/应用范围 对材料的晶体结构、组织形貌进行常规的TEM分析外，主要用于高分辨电子显微学研究。研究的对象可以是周期性的晶体结构，也可以是准晶，非晶、位错、层错等晶体缺陷，以及晶界、相界、畴界、表面等界面。  

服务领域  农/林/牧/渔  轻工/纺织  石油/石化  食品/烟草  地质/矿产  矿业/冶金  钢铁/有色金属  水文气象  非金属/珠宝  橡胶/塑料(材料)  通信/邮政  机械制造  医疗/卫生  生物/医药  地质勘探  电气工程  仪器/仪表  航空/航天  电子/信息技术  交通/运输(公路/铁路)  环保/水利/气象/天文  其它   

技术特色 详细收费标准： TEM400元/时；EDS在TEM收费基础上额外收费；点分析每点加60元，线分析或面分析每条线或每个面加200元。   

服务情况及收费标准 

对外服务(平均机时/年)   

收费标准（元/样品）   

联系方式 

联系人 郭生武  

联系电话 029-82668547  

传真 13096960866  

电子邮件 gsw@mail.xjtu.edu.cn