设备名称:薄膜厚度测量仪
仪器型号:xp-2
所属单位:西北工业大学-微/纳米实验室
设备原值:40 万元
制造厂商:美国AMBIOS公司
生产国别:美国
当前状态:对外服务
仪器设备详细指标
主要技术指标 测量多晶硅薄膜,氮化硅薄膜,氧化硅薄膜
功能/应用范围 主要用于镀膜样品薄膜厚度的检测。
服务领域 农/林/牧/渔 轻工/纺织 石油/石化 食品/烟草 地质/矿产 矿业/冶金 钢铁/有色金属 水文气象 非金属/珠宝 橡胶/塑料(材料) 通信/邮政 机械制造 医疗/卫生 生物/医药 地质勘探 电气工程 仪器/仪表 航空/航天 电子/信息技术 交通/运输(公路/铁路) 环保/水利/气象/天文 其它
技术特色
服务情况及收费标准
对外服务(平均机时/年)
收费标准(元/样品)
联系方式
联系人 马志波
联系电话 029-88495102-8031
传真 029-88495102
电子邮件 zbma@nwpu.edu.cn
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