[实用新型] 用于半导体处理腔室的制品
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授权公告号:CN213295503U
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授权公告日:2021.05.28
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申请号:2019211365089
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申请日:2019.07.18
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专利权人:应用材料公司
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发明人:邬笑炜; J·Y·孙; M·R·赖斯
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地址:美国加利福尼亚州
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分类号:C23C16/40(2006.01)I; C23C16/455(2006.01)I 全部
摘要: 本公开的实施例涉及用于半导体处理腔室的制品。所述制品包括:主体;含稀土金属的氧化物涂层,所述含稀土金属的氧化物涂层共形地覆盖所述主体的表面,所述含稀土金属的氧化物涂层具有0%的孔隙率;以及缓冲层,所述缓冲层在所述主体的所述表面上,其中所述含稀土金属的氧化物涂层覆盖所述缓冲层,其中,所述含稀土金属的氧化物涂层具有以小于+/‑20%的厚度变化、+/‑10%的厚度变化、+/‑5%的厚度变化、或者更小的厚度变化而涂覆的下层表面的保形覆盖。